SEM剖面分析-聚焦離子束（FIB）制樣
預(yù)約次數(shù)
316次
服務(wù)周期
樣品要求
1. 樣品要求：SEM制樣，顆粒需在微米級，計時收費；
2. 為了測試?yán)蠋熌軌蚋玫奶幚砟臉悠?，請您下單時備注具體的樣品信息 是否導(dǎo)電 是否有磁性
3. 特別注意：樣品尺寸及制樣要求提前發(fā)技術(shù)顧問確認(rèn)；樣品中有磁性元素也可制樣測試；備注下樣品的導(dǎo)電性，若導(dǎo)電性較差，會對樣品噴金；計時收費一般為FIB+SEM測試；透射制樣一般為按樣品收費，如需透射制樣請前往”聚焦離子束（FIB）制樣--計樣“下單；
