
常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析
項目簡介
常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析可以做結(jié)晶度計算,晶粒尺寸計算,物相鑒定,晶面標注,全巖/黏土分析。
結(jié)晶度計算說明:
相對結(jié)晶度的計算采用如下公式
式中:Ic為結(jié)晶峰的積分強度,Ia為非晶峰的積分強度;計算過程中,將半高寬(FWHM)大于3°的衍射峰標定為非晶峰。
擬合軟件為Jade,將數(shù)據(jù)導入Jade,對測試范圍內(nèi)的衍射峰進行全譜擬合,使用pseudo-Voigt函數(shù)描述衍射峰;對于有PDF的物相,直接使用PDF進行擬合;如無,采用直線背地,尋峰并進行擬合。最終得出結(jié)晶峰以及非晶峰積分面積數(shù)值,進行結(jié)晶度計算。
晶粒尺寸計算說明:
晶粒尺寸的計算采用謝樂公式:
式中:D為晶粒尺寸(nm);K為Scherrer常數(shù),其值為0.89;B為積分半高寬度,θ為衍射角;λ為X射線波長,為0.154056 nm 。
定量分析說明:
先用 PANalytical Highscore Plus? (V4.8) 軟件,ICDD PDF 4+ 2019數(shù)據(jù)庫對數(shù)據(jù)進行物相鑒定,得到物相信息。然后利用TOPAS V6軟件,采用Rietveld法進行定量分析(QPA)。此方法為外標定量法,采用高結(jié)晶性(99wt%)剛玉樣品作為標準。
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結(jié)果展示
物相鑒定默認結(jié)果模板:
物相鑒定+晶面標注默認結(jié)果模板:
定量分析模板:
樣品要求
要求測試速率最快2度/min,太快影響測試分析結(jié)果,一般測試速率低,獲得的譜圖準確性越高。